Lifetime Reliabilityaware Design Of Integrated Circuits

Behnam Ghavami

Lifetime Reliabilityaware Design Of Integrated Circuits - 1
Estado : Novo
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País de expedição : Reino Unido
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They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nanoscale CMOS digital circuits as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design CAD of reliable VLSI circuits.

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They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nanoscale CMOS digital circuits as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design CAD of reliable VLSI circuits.
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Lifetime Reliabilityaware Design Of Integrated Circuits

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Características

Editora

Springer International Publishing AG

Idiomas

Inglês

Número de páginas

107

Encadernação

Capa Dura / Hardback

Data de lançamento

17/11/2022

Altura

235 x 155

Peso

0

Tema

Engineering & Agriculture

EAN

9783031153440

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