Lifetime Spectroscopy - A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Hardback - 2005
Stefan Rein
Estado :
Novo
Vendido por
País de expedição : Reino Unido
Resumo
Year of publication: 2005
Pagination: 492 pages, 29 black & white tables, biography
Format: Hardback
Serie: Springer Series in Materials Science
Lifetime Spectroscopy - A Method of Defect Characterization...
Resumo
Year of publication: 2005
Pagination: 492 pages, 29 black & white tables, biography
Format: Hardback
Serie: Springer Series in Materials Science
Publicidade
Avaliações dos nossos clientes
Lifetime Spectroscopy - A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Hardback - 2005
Sê o primeiro a dar
a tua opinião sobre este produto
Características
- Editora
-
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- Dimensão
-
235 x 155 x 33
- Peso
-
1030
- Tema
-
Condensed matter physics (liquid state & solid state physics)|Electronic devices & materials
- Origem
-
Germany
- EAN
-
9783540253037
Publicidade
Publicidade